4-инчен силиконски нафора FZ CZ N-Type DSP или SSP одделение за тестирање

4 инчен силиконски нафора FZ CZ N-тип DSP или SSP одделение за тестирање Избрана слика

Краток опис:

Силиконската обланда е тенок лист исечен од еднокристален силикон.Силиконските наполитанки се достапни во дијаметри од 2 инчи, 3 инчи, 4 инчи, 6 инчи и 8 инчи и главно се користат за производство на интегрирани кола.Силиконските наполитанки се само суровина, а чипсот е готов производ.Силиконските наполитанки се важни материјали за правење интегрирани кола, а разни полупроводнички уреди може да се направат со помош на фотолитографија и јонска имплантација на силиконски наполитанки.

Испратете ни е-пошта

Детали за производот

Ознаки на производи

Воведување на кутија за нафора

Силиконските наполитанки се составен дел од денешниот растечки технолошки сектор.Пазарот на полупроводнички материјали бара силиконски наполитанки со прецизни спецификации за производство на голем број нови уреди за интегрирано коло.Ние признаваме дека како што се зголемуваат трошоците за производство на полупроводници, така се зголемуваат и трошоците за тие материјали за производство, како што се силиконските наполитанки.Ја разбираме важноста на квалитетот и економичноста на производите што им ги нудиме на нашите клиенти.Нудиме наполитанки кои се исплатливи и со постојан квалитет.Ние главно произведуваме силиконски наполитанки и инготи (CZ), епитаксијални наполитанки и SOI наполитанки.

Дијаметар	Дијаметар	Полиран	Допингуван	Ориентација	Отпорност/Ω.cm	Дебелина/мм
2 инчи	50,8±0,5 мм	SSP ДСП	P/N	100	1-20	200-500
3 инчи	76,2±0,5 мм	SSP ДСП	P/B	100	NA	525±20
4	101,6±0,2 101,6±0,3 101,6±0,4	SSP ДСП	P/N	100	0,001-10	200-2000 година
6	152,5±0,3	SSP ДСП	P/N	100	1-10	500-650
8	200±0,3	ДСП SSP	P/N	100	0,1-20	625

Примена на силиконски наполитанки

Подлога: PECVD/LPCVD облога, магнетронско распрскување

Подлога: XRD, SEM, инфрацрвена спектроскопија со атомска сила, преносна електронска микроскопија, флуоресцентна спектроскопија и други аналитички тестови, епитаксијален раст на молекуларен сноп, анализа на рендгенски зраци на обработка на кристална микроструктура: офорт, поврзување, MEMS уреди, уреди за напојување, MOS уреди и други обработка

Од 2010 година, Шангај XKH Material Tech.Co., Ltd е посветена да им обезбеди на клиентите сеопфатни решенија за силиконски нафора од 4 инчи, од наполитанки за нивоа на дебагирање Dummy Wafer, тестни наполитанки тест нафора, до наполитанки на ниво на производ, Prime Wafer, како и специјални наполитанки, Oxide wafers Oxide, Нитридни наполитанки Si3N4, алуминиумски обланди, бакарни силиконски наполитанки, SOI обланда, MEMS стакло, прилагодени ултра дебели и ултра рамни обланди, итн., со големини кои се движат од 50 mm до 300 mm, а можеме да обезбедиме полупроводнички наполитанки со еднострани /двострано полирање, разредување, коцки, MEMS и други услуги за обработка и прилагодување.